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詳細摘要： 該設(shè)備主要用于常和彈殼，它允許兩個樣品并排安裝，以便進行詳細的比較。每個樣品可以獨立旋轉(zhuǎn)360度，并調(diào)整其相對高度。

詳細摘要： 英國Deben出品的PCD型束閘是設(shè)計用來為JEOL和Hitachi的FEG場發(fā)射、LaB6六硼化鑭和鎢燈絲掃描電鏡提供電子束的消隱（阻斷、開關(guān)）、脈沖或其他調(diào)...

詳細摘要： 半導(dǎo)體制冷冷臺

詳細摘要： 英國Deben 出品的視頻腔室觀察鏡可用于所有掃描電鏡，安裝在電鏡腔室任意端口的空法蘭上或腔室門上。作為一個標(biāo)準(zhǔn)組合，腔室觀察鏡帶有獨立的電源裝置并包含照明控制...

詳細摘要： Deben可以提供一系列不同臺子用于雙軸和四軸拉伸試驗。無論您有什么樣的需求，Deben都有一個適合您應(yīng)用的解決方案，我們有一個標(biāo)準(zhǔn)2kN的臺子，并可以定制從5...

詳細摘要： EBIC掃描電鏡電子束感生電流放大器及成像系統(tǒng)

詳細摘要： STEM掃描透射探測器、BSE背散射探測器、CL陰極熒光探測器

詳細摘要： MICROTEST三點彎曲和拉伸/壓縮模塊專門設(shè)計用于在掃描電鏡或光學(xué)顯微鏡下觀察樣品的高應(yīng)力區(qū)。

詳細摘要： 雙絲桿工作臺的設(shè)計允許透射和反射照明兩種，可安裝在光學(xué)顯微鏡、X射線衍射系統(tǒng)或同步加速器上。

詳細摘要： 2kN和5kN拉伸臺測試模塊為特殊設(shè)計，可以用SEM、光學(xué)顯微鏡、AFM或XRD系統(tǒng)實時觀察樣品的高應(yīng)力區(qū)域。Windows 7.0/10軟件設(shè)置驅(qū)動器參數(shù)，并...

詳細摘要： 用于μXCT斷層成像系統(tǒng)的DEBEN帕爾貼冷熱臺允許在冷凍條件下對樣品進行成像，雙層聚苯乙烯（可選碳）窗可防止結(jié)冰，并可將樣品快速冷卻至-20°C

詳細摘要： Deben最近開發(fā)了一種新的2KN拉伸臺，可選擇加熱至600°C的加熱裝置，專門用于裝有EBSD探測器的掃描電鏡內(nèi)。該臺有雙樣品夾具，允許樣品在0°和70°下觀...

詳細摘要： CT20K，全開放式框架，拉伸、壓縮和扭轉(zhuǎn)試驗臺，專為同步加速器和基于房間的X射線CT成像系統(tǒng)設(shè)計

詳細摘要： CT500原位測試臺用途廣泛，適應(yīng)性強，重量小于1.0kg，適用于安裝在見的中程μXCT系統(tǒng)（如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE...

詳細摘要： CT5000原位測試臺用途廣泛，適應(yīng)性強，重量小于6.0kg，適用于安裝在見的中程μXCT系統(tǒng)，如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和G...

詳細摘要： 200N原位拉伸臺MICROTEST200N模塊經(jīng)過特別設(shè)計，可以通過掃描電鏡、光學(xué)顯微鏡、原子力顯微鏡或XRD系統(tǒng)實時觀察樣品的高應(yīng)力區(qū)。