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使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統(tǒng)支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術的一大進步。快速、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡...

高性價比掃描電鏡 Phenom Pure 裝配的基本組件可以滿足高分辨率成像的要求，這些基本組件不僅可以保證電鏡高質(zhì)量的成像，而且能夠?qū)崿F(xiàn)快速裝載樣品，短時間內(nèi)...

加快材料研究的突破性進展，您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結構的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代...

Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術的一大進步?？焖?、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phen...

荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射...

第六代 Phenom Pro 高分辨率臺式掃描電鏡是一款功能強大，輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴展了研究設備的功能，結合豐富的樣品杯選件...

全新的易于學習的界面可幫助您快速掌握新信息，是各種應用的理想選擇。Phenom XL G2 臺式掃描電鏡大樣品室版升級為全面屏成像，平均成像時間僅為 40 秒，...

臺式離子研磨拋光儀 SEMPrep2 作為新一代的高精密氬離子研磨系統(tǒng)，可以滿足研究人員苛刻的研磨需求。集成式多功能截面拋削以及無損平面拋光系統(tǒng)，為 SEM 以...