| 北京華測試驗(yàn)儀器有限公司
主營產(chǎn)品： 實(shí)驗(yàn)儀器 |
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| 北京華測試驗(yàn)儀器有限公司
主營產(chǎn)品： 實(shí)驗(yàn)儀器 |
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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Huace-103華測 靜電計(jì) 滿足國標(biāo)GB/T 11210 簡單介紹：華測儀器--靜電計(jì)均經(jīng)過嚴(yán)酷的實(shí)踐驗(yàn)證，穩(wěn)定可靠，目前廣泛應(yīng)用于電磁兼容、靜電采集、航空航天、科研單位等場合，具有輸入阻抗大于（1X1014Ω=100TΩ），幾乎不消耗被測物理的任何電量。 產(chǎn)品型號(hào)：Huace-103 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-31 |
參考價(jià):¥40000 詢價(jià)留言 | ||
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低壓漏電起痕測試儀 電痕化指數(shù)CTI 簡單介紹：低壓漏電起痕測試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30S）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH4CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-31 |
參考價(jià):¥50000 詢價(jià)留言 | ||
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Huace-111華測儀器電荷量表 簡單介紹：華測*儀器-電荷量表結(jié)合了華測高靈敏度電壓、電流測量儀器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及更快的速度和更高的耐用性。這款經(jīng)濟(jì)型的儀器具有手動(dòng)電荷量程和快速自動(dòng)量程功能，可以測量土0.1pC到正負(fù)20uC的電荷，其測量速度達(dá)到500讀數(shù)/秒。 產(chǎn)品型號(hào)：Huace-111 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-31 |
參考價(jià):¥20000 詢價(jià)留言 | ||
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華測半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測試平臺(tái) 簡單介紹：絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)中的恒溫箱給每個(gè)腔室都配備了一個(gè)型號(hào)控制器，該控制器允許程序重復(fù)多達(dá)9999次。每個(gè)程序步驟包括溫度、時(shí)間和變化率參數(shù)。測試最長可達(dá)100小時(shí)。提供的內(nèi)置控制器外部接口是RS232?？刂破骶哂邪粹o方便性、背光LCD、電池支持的存儲(chǔ)器和可設(shè)置的總線地址和波特率。華測半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測試平臺(tái) 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-31 |
參考價(jià):¥40000 詢價(jià)留言 | ||
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HCHV系列華測壓電陶瓷高壓極化電源高壓直流電源 簡單介紹：華測HCHV系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源， 具有完善的保護(hù)系統(tǒng)。 可遙控或本地控制，前面板有電壓、電流顯示，高壓輸入端過壓、過流、短路保護(hù)、拉弧、過溫保護(hù)和安全鎖等功能。 寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能． HCHV系列是一種高性能、 高可靠性、 高品質(zhì)的直流高壓電源，更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料檢測。華測壓電陶瓷高壓極化電源高壓直流電源 產(chǎn)品型號(hào)：HCHV系列 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-31 |
參考價(jià):¥80000 詢價(jià)留言 | ||
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Huace-103靜電計(jì) 標(biāo)準(zhǔn)GB2439 GB/T12703 GB2439 簡單介紹：高靈敏靜電計(jì)是采用電壓懸浮技術(shù)和超高性能的集成電路優(yōu)化設(shè)計(jì)的，它如一臺(tái)輸入阻抗*（1014Ω ）的電壓表，克服的斬波或振動(dòng)靜電計(jì)受環(huán)境如空氣塵士和濕度影響漂移較大的缺點(diǎn)，幾乎不需預(yù)熱開機(jī)即可測量，它有非常高的靈敏，輸入阻抗*。 產(chǎn)品型號(hào)：Huace-103 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-31 |
參考價(jià):¥10000 詢價(jià)留言 | ||
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華測絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 簡單介紹：華測絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)，面對(duì)電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣bu良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可高精度連續(xù)監(jiān)測，高效簡便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-31 |
參考價(jià):¥50000 詢價(jià)留言 | ||
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HCDZ-300絕緣油脂體積電阻率測試儀 簡單介紹：HCDZ-300絕緣油脂體積電阻率測試儀主要針對(duì)于絕緣油脂類及電力油脂類材料的體積電阻率測試。本試驗(yàn)儀器由中國石油化工研究院、北京華測儀器有限公司、中國石油昆侖潤滑油天津分公司、中國電力科學(xué)研究院聯(lián)合共同開發(fā)。 產(chǎn)品型號(hào)：HCDZ-300 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-31 |
參考價(jià):¥25000 詢價(jià)留言 | ||
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絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估平臺(tái) 簡單介紹：華測絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估平臺(tái)，是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時(shí)間的測試（1~1000小時(shí)可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-31 |
參考價(jià):¥60000 詢價(jià)留言 | ||
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HCDR-300華測電弱點(diǎn)測試儀 寬度根據(jù)要求定不用切卷 簡單介紹：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地設(shè)備的可靠性、穩(wěn)定性。測量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。華測電弱點(diǎn)測試儀 寬度根據(jù)要求定不用切卷 產(chǎn)品型號(hào)：HCDR-300 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-25 |
參考價(jià):¥60000 詢價(jià)留言 | ||
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HCRD-300華測電弱點(diǎn)檢測儀 國標(biāo)GB/T 13542-92 簡單介紹：電弱點(diǎn)測試儀，據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測試儀，無須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測試。華測電弱點(diǎn)檢測儀 產(chǎn)品型號(hào)：HCRD-300 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-10 |
參考價(jià):¥60000 詢價(jià)留言 | ||
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Huace-105華測高阻高壓表 適用于靜電電壓測量 簡單介紹：本高阻高壓表的主要特點(diǎn)是*的輸入阻抗，輸入阻抗超過100G歐，幾乎對(duì)被測對(duì)象沒有影響，而且測量范圍寬、準(zhǔn)確度高。主要用于高電壓測量，特別適用于測量內(nèi)阻很高的靜電發(fā)生器，電視機(jī)高壓測量，同時(shí)也適用于靜電發(fā)生器、靜電放電槍、靜電高壓表、非接觸式靜電電壓表的校準(zhǔn)等。華測高阻高壓表 適用于靜電電壓測量 產(chǎn)品型號(hào)：Huace-105 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-10 |
參考價(jià):¥30000 詢價(jià)留言 | ||
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脈沖電聲法(PEA)交直流空間電荷測量系統(tǒng) 簡單介紹：?脈沖電聲法(PEA)交直流空間電荷測量系統(tǒng)，電聲脈沖法是一種無損的空間電荷測量技術(shù)。它用于描述聚合物絕緣材料內(nèi)部的空間電荷分布、積累及其整體行為。 空間電荷觀測正在成為評(píng)估直流絕緣應(yīng)用(尤其是高壓電纜)中的聚合物材料測試時(shí)，使用廣泛的技術(shù)。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-07 |
參考價(jià):¥60000 詢價(jià)留言 | ||
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華測高電場介電、損耗、漏電流測試平臺(tái) 簡單介紹：華測高電場介電、損耗、漏電流測試平臺(tái)，它使用真正的 AC DFR（介電頻率響應(yīng)），保持出色的準(zhǔn)確性和提供可靠數(shù) 據(jù)的能力，可在高干擾環(huán)境中獲得可靠的測試結(jié)果。 該軟件使測試既簡單又快 捷，它可在進(jìn)行不同溫度，頻率下測量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-07 |
參考價(jià):¥80000 詢價(jià)留言 | ||
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華測高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng) 簡單介紹：華測高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)從低頻到高頻信號(hào)的輸出與測量。本套系統(tǒng)可以在任意電壓激勵(lì)下的介電響應(yīng)測試根據(jù)需要自定義輸出任 意電壓波形激勵(lì)，滿足對(duì)不同條件下不同絕緣材料不同方面的測試需求，更好 地適應(yīng)用戶需求。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-07 |
參考價(jià):¥80000 詢價(jià)留言 | ||
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HC華測多通道電阻/介電測試系統(tǒng) 簡單介紹：華測多通道電阻/介電測試系統(tǒng)，基于 IM3570 與 ZC3001 組合的 10 通道交流阻抗測試系統(tǒng)（發(fā)揮寬頻帶、通道間誤差少的優(yōu)點(diǎn)，與 LCR 多路測試軟件 CN040 組合，可用于多通道介電與電阻測量，也可適用于電子零件和傳感器的研究開發(fā)。） 產(chǎn)品型號(hào)：HC 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-07 |
參考價(jià):¥50000 詢價(jià)留言 | ||
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HCLD-3華測儀器-低壓漏電起痕測試儀 簡單介紹：華測儀器-低壓漏電起痕測試儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造的檢測儀器，適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器的固體絕緣材料及其產(chǎn)品模擬在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測定，具有簡便、準(zhǔn)確、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)。 產(chǎn)品型號(hào)：HCLD-3 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-03-07 |
參考價(jià):¥50000 詢價(jià)留言 | ||
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HGTZ-900華測高溫低電阻測試儀 簡單介紹：HGTZ-900高溫低電阻測試儀器采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。 產(chǎn)品型號(hào)：HGTZ-900 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-15 |
參考價(jià):¥44433 詢價(jià)留言 | ||
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HCQB-30KV漆包線擊穿耐壓測試儀 簡單介紹：漆包線擊穿耐壓測試儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)材料的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)。適用于對(duì)固體絕緣材料（如：絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等）在工頻電壓下?lián)舸╇妷海瑩舸?qiáng)度和耐電壓的測試。儀器對(duì)實(shí)驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行采集、處理、存取、顯示、打印。 產(chǎn)品型號(hào)：HCQB-30KV 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-04 |
參考價(jià):¥23423 詢價(jià)留言 | ||
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HCTZ-2S四探針測試儀 簡單介紹：HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。 產(chǎn)品型號(hào)：HCTZ-2S 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-01-04 |
參考價(jià):¥45454 詢價(jià)留言 | ||
