| 產(chǎn)地 |
國產(chǎn) |
產(chǎn)品新舊 |
全新 |
納米粒度及zeta電位儀的密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測量室底部。采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
一、納米粒度zeta電位儀特征 zeta電位儀的密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測量室底部。ZetaCompact、采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
二、儀器特點(diǎn)
1、一種模塊化工具，用于解決測量從10nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問題，并計(jì)算膠體懸浮液的zeta電位儀。
2、激光照明和視頻接口能實(shí)現(xiàn)亞微米粒子的測量。
3、石英測量池組裝了兩對(duì)鈀電，構(gòu)成*對(duì)稱的腔室。
4、動(dòng)態(tài)安裝，便于接入石英池。清洗后的測量池可快速準(zhǔn)確地定位。
5、用快速響應(yīng)微探針原位測量樣品溫度。
6、圖像分析軟件對(duì)粒子進(jìn)行全自動(dòng)跟蹤。
三、使用說明
開啟Zeta電位分析儀儀器(儀器的開關(guān)在設(shè)備的后面的右上部位)，按開關(guān)后將出現(xiàn)“嘟嘟”聲，指示Zeta電位分析儀儀器已開啟，開始初始化步驟；如果Zeta電位分析儀儀器完成例程，出現(xiàn)第二次“嘟嘟”聲。（將再次聽到兩次“嘟嘟”聲，說明儀器已達(dá)到25°C的默認(rèn)溫度。因?yàn)楸緝x器為632.8激光光源，一般需穩(wěn)定30分鐘，）
四、Zeta電位分析儀的測量
1、測量粒徑前，需查知樣品分散劑的粘度、折光指數(shù)（Refractive Index）、介電常數(shù)（Dielectric constant）；
2、用卷紙輕輕點(diǎn)拭樣品池外側(cè)水滴，尤其是兩個(gè)塞子外側(cè)一定要去除樣品池內(nèi)的氣泡，尤其是電極上氣泡如發(fā)現(xiàn)電極變黑，需更換；
3、實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì)，不可用于測量有機(jī)分散體系；
4、實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池測量溫度不可高于70度；
5、使用濾紙過濾時(shí)，舍去過濾后的第一滴樣品，以防濾紙上雜質(zhì)進(jìn)入樣品池；
6、在Zeta電位分析儀測量時(shí)需自帶：卷紙、多個(gè)注射器（5ml）、多個(gè)離心管（用于稀釋樣品）使用使用光盤。
五、納米粒度zeta電位儀應(yīng)用域
1、陶瓷
2、水泥
3、乳濁液
4、微乳液
5、脂質(zhì)體
6、水處理
7、紙漿和紙
8、粘土
9、顏料
10、生物學(xué)
11、免疫學(xué)
12、礦物浮選
13、納米顆粒
14、聚合物膠乳
制藥網(wǎng)