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250μm 微區(qū)分布成像分析功能!

X R F -1500j1700 系列 X射線熒光光譜儀在世界上首先開發(fā)出微區(qū)分析·分布分析功能，并采用了4KW薄窗X射線管，擴大了X射線熒光分析的應(yīng)用領(lǐng)域，作為具有革命性的儀器而得到了很高評價，業(yè)己銷售 200 余臺。

XRF-1800 對儀器硬件與軟件的許多細(xì)節(jié)都進行了改進，進一步提高了儀器的可靠性與可操作性，新增了250μm 微區(qū)分布成像分析功能，從而達(dá)到更高水平的程度。

掃描型X射線熒光光譜儀XRF-1800特點

1、用波長色散型 XRF 在世界上首先實現(xiàn)了 250μm微區(qū)分布分析 ( 如選購 CCD 攝像頭可以直接觀察樣品)

2、利用高次線解析可以進行準(zhǔn)確的定性·定量分析

3、配置有高分子薄膜的膜厚測定與無機成分分析的背景基本參數(shù)法 (FP)

4、既美觀又節(jié)省空間的整機設(shè)計(數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、X 射線管冷卻水裝置、真空泵、X 射線管高壓電源等全一體化)

5、配置高可靠性、長壽命的 4KW 薄窗 X 射線管

6、快速、安全、性能可靠而實用的運送樣品系統(tǒng)

7、XRF-1800具有集成島津公司實踐知識于一體的模塊功能和匹配功能

8、具有多功能而易操作的軟件

應(yīng)用領(lǐng)域

1、電子·磁性材料

半導(dǎo)體、光磁盤、磁性材料、電池、線路板、電容器等

2、化學(xué)工業(yè)

無機·有機制品、化學(xué)纖維、催化劑、涂料、顏料、藥品、化妝品、洗滌劑、橡膠、調(diào)色劑等

3、石油·煤炭

石油、重油、潤滑油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等

4、陶瓷·水泥

水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、高嶺土、粘土、玻璃、耐火材料、巖石等

5、鋼鐵

生鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金鋼、爐渣、鐵礦石、鐵合金、特種鋼、表面處理鋼板、電鍍液、鑄造砂等

6、有色金屬

銅合金、鋁合金、鉛合金、缽合金、鎮(zhèn)合金、鑲合金、鐵合金、貴金屬等

7、環(huán)境

工廠廢水、海水、河水、大氣粉塵、工業(yè)廢物等

8、農(nóng)業(yè)

食品 土壤、肥料、植物、食品等

9、紙張

紙漿 涂布紙、滑石、調(diào)色劑、墨水等

10、地質(zhì)·礦產(chǎn)

巖礦、土壤、鐵礦石、有色金屬礦石、鋁磯土、稀土礦石等

250μm 微區(qū)分布成像分析功能

·利用 CCD 攝像頭可以直接觀察樣品(選購件)

·用500μm 光闌和和數(shù)字處理數(shù)據(jù)的顯示，可以實現(xiàn) 250μm 微區(qū)圖像顯示。 與 CCD 攝像頭相組合，可得到更加確定的分析結(jié)果。

微區(qū)分析

1994年，本公司在傳統(tǒng)的10-30mm大面積測量、分析平均含量的性能(功能)優(yōu)異的光譜儀中，添加了微區(qū)分析功能，并推出了具有微區(qū)分析功能的XRF-1700光譜儀。

XRF-1800是XRF-1700升級產(chǎn)品，在性能和功能方面均有改進，其最小分析直徑可達(dá)500μm(顯示直徑 250μm)。

微區(qū)分析系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

獨自開發(fā)的特殊形狀的滑動式視野限制光闌，利用 r 方向滑動與樣品旋轉(zhuǎn)控制的。轉(zhuǎn)動，可以在30mm直徑內(nèi)的任意位置進行分析。

分析位置的方法

根據(jù)微區(qū)分析刻度盤(標(biāo)準(zhǔn)附件)與CRT畫面，任意位置。 另外還可以根據(jù)CCD攝像頭(選購件)的樣品畫面分析位置。

位置畫面

用鼠標(biāo)30mm圓內(nèi)的點或者用數(shù)值輸入其位置

微區(qū)分析刻度盤

對準(zhǔn)樣品容器，確定測定位置

應(yīng)用實例

元素分布成像分析

用250μm 束斑顯示，便于數(shù)據(jù)對比。應(yīng)用于不均勻樣品的含量分布和強度分布分析。

樣品是稀土元素礦物(Bastnasite)。 紅色圓圈為30mm直徑的分布分析范圍。

La 與 Ce 具有相同的分布，而 Ca 與 Ba 分別具有不同的分布。 因此，判斷此樣品至少含有 3 種礦物。

利用高次語線的定性·定量分析

·可以同時測定常規(guī)的 1 次譜線與高次譜線的譜峰。

·高次譜線的判定更加準(zhǔn)確，可以提高定性·定量分析的準(zhǔn)確度與可靠性。

·用脫機數(shù)據(jù)處理，1 次譜線與高次譜線可以交替顯示，也可以兩者重迭顯示。 這樣高次譜線的影響就一目了然。

測定高分子薄膜的膜厚與無機成分分析的背景基本參數(shù) (FP) 法

·高分子薄膜分析中，利用康普頓散射線的理論強度作為高分子薄膜的信息。

·利用康普頓散射 / 瑞利散射的強度比計算出熒光 X 射線分析不能得到的氫(H)元素的信息。

傳統(tǒng)的基本參數(shù)(FP)法只計算 X 射線熒光(凈峰) 的強度，而背景基本參數(shù)(F P)法增加了散射 X 射 線(背景)強度的計算。 對于高分子薄膜樣品，計算散射 X 射線之一的 R h K α 康普頓散射的 X 射線強度就可以測定高分子薄 膜的厚度，這是因為康普頓散射的強度與樣品的密 度成反比，且與薄膜的厚度成正比。

基本性能

· LAB CENTER 是根據(jù)理論計算新設(shè)計的光學(xué)系統(tǒng)，所以大幅度提高了靈敏度。另外，晶體交換與測角儀等多個硬 件同時控制，達(dá)到快速運行。這種基本性能，充分滿足各行各業(yè)用戶的要求。

4KW 薄窗 X 射線管

配置有平均壽命5年以上的高可靠性的X射線管。 與傳統(tǒng)3KW的X射線管比較，輕元素的分析靈敏度提高 2 倍以上。

·島津開發(fā)的 4KW 薄窗 X 射線管與大電流 140mA 的 X 射線發(fā)生 器作為標(biāo)準(zhǔn)配置，全元素的分析靈敏度明顯提高。

·特別是Be等超輕元素的分析靈敏度有飛躍的提高(約 2 倍)。

·使用 RhjCr 等雙靶 X 射線管(選購件)，可以提高 Ti、Cl、Rh、 Ag 等元素分析的靈敏度。

5 位一次 X 射線濾光片交換機構(gòu)

5 種一次X射線濾光片作為標(biāo)準(zhǔn)配置，降低由X射線管產(chǎn)生的特征X射線、連續(xù)X射線、雜散線的散射線，可進行微量元素分析。

預(yù)抽真空·放氣速度的高速 j 低速切換

·有利于容易破損的粉末樣品與薄膜分析

真空度穩(wěn)定機構(gòu)

·為了改善輕元素的重現(xiàn)性，配置有真空度穩(wěn)定機構(gòu)。此機構(gòu) 本公司在世界上首先在多道 X 射線熒光光譜分析裝置上開發(fā)， 并投入實際應(yīng)用的。

可以進行He·N2 置換(選購件)

·用于液體樣品分析。

·新開發(fā)的置換機構(gòu)，可能快速準(zhǔn)確地氣氛置換。

新設(shè)計的光學(xué)系統(tǒng)

· X 射線管與樣品的距離，以及樣品與視野限制光闌及次級準(zhǔn) 直器的距離都縮短，因此全元素的分析靈敏度提高約 2 倍(本 公司自比)。

高精度的溫度調(diào)節(jié)機構(gòu)

·利用高精度的溫度調(diào)節(jié)機構(gòu)，裝置內(nèi)溫度控制在 35:t0.1C

原理·結(jié)構(gòu)

當(dāng) X 射線管發(fā)射的 X 射線照射樣品時，從樣品中所含元素的 原子就產(chǎn)生新的 X 射線發(fā)射到樣品表面外，這種具有元素特 征波長的 X 射線稱為熒光 X 線。因此，通過檢測這種 X 射線的波長可以進行定性分析。另外，因為熒光 X 射線的強度與 元素的濃度成正比，檢測每個元素的熒光 X 射線特征強度可 以進行定量分析。

·在分析高含量時，計數(shù)率超過計數(shù)線性范圍，將靈敏度衰減 約 1/10。

可靠實用的樣品運送系統(tǒng)

一一永無裝卸故障的，島津獨自研制的搖營機械手方式 一

·粉末樣品萬一破損時，只在預(yù)抽真空室中酒落，而不會污染處于真空中的分析室

·只要把預(yù)抽真空室返回到放置樣品的一側(cè)，即使儀器處于通電狀態(tài)，也能清掃預(yù)抽真空室。

長期穩(wěn)定性好，充分發(fā)揮 X 射線管

性能的檢測器和計數(shù)電路系統(tǒng)

·配置有高精度氣體密度穩(wěn)定器，檢測器的氣體流量很小，檢測器和計數(shù)電路系統(tǒng)的長期穩(wěn)定性好。

·自動靈敏度控制(ASC)功能，在微量元素到主成分分析中，可使 4KW 薄窗 X 射線管充分發(fā)揮其性能。

用高速掃描(300 /min)功能進行簡單·快速的定性定量分析

·用簡單的操作，可以在短時間內(nèi)得到分析結(jié)果。

樣品分析過程

·用簡單的操作，可以進行全元素(Be-U)的定性分析和利用 無標(biāo)樣 FP 法的定量分析。

* 分析 Be - N 時，要使用選購的分光晶體

簡單分析 用鼠標(biāo)樣品旋轉(zhuǎn)臺的樣品位置進行分析。 進行全元素的定性和 FP 法的定量分析。

根據(jù)化合物形態(tài)，樣品形態(tài)及分析時間，選擇分析條件。

高速定性·定量分析

·利用高速定性分析功能(300。jmin)只需 2.5min 就可以完成 Be-U 的定性分析，以及 FP 法的定量分析。