zeta電位分析儀運用超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度。
zeta電位分析儀是一款新型的、多用途分析儀，采用了高靈敏度測量技術(shù)，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，可應用于以下諸多行業(yè)：
1、半導體
研究半導體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
2、陶瓷和顏料工業(yè)
表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
3、醫(yī)藥和食品行業(yè)
乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品)，蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究(微囊)。
4、聚合物和化工領域
乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。
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