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當(dāng)前位置：HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部>>公司動(dòng)態(tài)>>顆粒檢測(cè)進(jìn)入“看得見(jiàn)“時(shí)代！ | 全球直播
顆粒檢測(cè)進(jìn)入“看得見(jiàn)“時(shí)代！ | 全球直播
無(wú)論是科學(xué)研究還是工業(yè)生產(chǎn)，顆粒的粒徑與形貌分布往往是決定材料性能與產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵因素。
不同于傳統(tǒng)的顆粒分析技術(shù)，圖像分析法正以其直觀、高效的特點(diǎn)，為顆粒分析注入嶄新的活力。無(wú)論您的樣品是懸浮液還是干粉，HORIBA 的圖像分析模塊都能自動(dòng)化、精確地幫助您表征數(shù)以萬(wàn)計(jì)的顆粒，輕松獲取微米至毫米級(jí)顆粒的尺寸與形貌信息。
想要深入了解這項(xiàng)技術(shù)的核心原理與實(shí)踐應(yīng)用？本次線上講座特別邀請(qǐng)了 HORIBA 的顆粒表征專家 Jeff Bodycomb 博士，他將帶您走進(jìn)圖像分析技術(shù)的奇妙世界。從基礎(chǔ)理論到實(shí)際操作，從案例分享到前沿探討，Jeff 博士將傾囊相授，讓您在短時(shí)間內(nèi)系統(tǒng)掌握這項(xiàng)技術(shù)。
掃描下方二維碼，立即報(bào)名參加網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)，3 月 14 日 1:30 至 2:30與 Jeff Bodycomb 博士一起探索顆粒世界的奧秘，開(kāi)啟粒徑與形貌分布測(cè)定的新視野！
課程信息
課程名稱
圖像分析法實(shí)現(xiàn)顆粒粒徑與形貌的精準(zhǔn)表征
講座時(shí)間
3 月 14 日 1:30-2:30(北京時(shí)間)
推薦參加人員
• 實(shí)驗(yàn)室管理者
• 顆粒材料研發(fā)工程師
• 分析檢測(cè)人員
主講人
Jeff Bodycomb, Ph.D.
產(chǎn)品經(jīng)理，HORIBA 顆粒表征專家
您將了解
• 什么是圖像分析？
• 圖像分析技術(shù)的工作原理
• 圖像分析技術(shù)有哪些限制？
• 圖像分析技術(shù)能幫您獲得什么？
報(bào)名方式
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