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解讀拉曼顯微光譜技術(shù)在半導(dǎo)體領(lǐng)域的關(guān)鍵應(yīng)用 | 全球直播
在半導(dǎo)體行業(yè)中，為了全面揭示新化合物的特性，必須依賴多種技術(shù)手段進(jìn)行綜合表征。在當(dāng)前眾多廣泛采納的表征技術(shù)中，光學(xué)顯微光譜平臺(tái)，特別是拉曼顯微鏡，能夠在單一集成系統(tǒng)內(nèi)同時(shí)提供物理與化學(xué)性質(zhì)的深入信息。因此，通過結(jié)合拉曼顯微鏡與光致發(fā)光顯微鏡的應(yīng)用，可以高效地完成諸如工藝驗(yàn)證、晶片均勻性評(píng)估及晶片缺陷檢測(cè)等一系列核心任務(wù)。
在本次講座中，我們榮幸地邀請(qǐng)到 HORIBA 拉曼應(yīng)用領(lǐng)域的專家 Thibault Brulé 博士和市場(chǎng)應(yīng)用專員 Agnès Tempez 博士，他們將為大家重點(diǎn)介紹光致發(fā)光顯微鏡和拉曼顯微鏡如何應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體領(lǐng)域的挑戰(zhàn)，還將展示如何將顯微光譜與原子力顯微鏡(AFM)相結(jié)合，以實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率并進(jìn)一步深化對(duì)這些結(jié)構(gòu)的理解。
掃描下方二維碼，10 月 17 日 21:00 至 22:00準(zhǔn)時(shí)開課！讓我們跟隨 Thibault Brulé 博士和 Agnès Tempez 博士，探尋光學(xué)顯微光譜技術(shù)在半導(dǎo)體領(lǐng)域的強(qiáng)大應(yīng)用。
課程信息
課程名稱
利用拉曼顯微光譜技術(shù)對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行表征
講座時(shí)間
10月17日 21:00-22:00(北京時(shí)間)
推薦參加人員
• 從事半導(dǎo)體材料開發(fā)的科學(xué)家
• 尋找半導(dǎo)體材料表征新方法的科學(xué)家
• 拉曼光譜儀用戶
主講人
Thibault Brulé 博士
HORIBA 法國 拉曼應(yīng)用經(jīng)理
Agnès Tempez
HORIBA 法國 市場(chǎng)應(yīng)用專員
您將了解
• 拉曼顯微鏡能夠解決的半導(dǎo)體領(lǐng)域不同挑戰(zhàn)
• 拉曼顯微鏡為半導(dǎo)體行業(yè)帶來的市場(chǎng)前景
• 拉曼顯微鏡為什么能作為半導(dǎo)體材料表征的理想技術(shù)
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