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HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部

納米粒度zeta電位儀的主要組成部件功能特點(diǎn)分享

時(shí)間:2025-3-17
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  納米粒度zeta電位儀運(yùn)用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)、電泳光散射(ELS)技術(shù),能夠精確測量顆粒的尺寸分布、Zeta電位及分子質(zhì)量,為科研工作者提供詳盡的顆粒特性分析。其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,涵蓋納米材料研發(fā)、生物醫(yī)學(xué)研究、膠體與界面科學(xué)探索等,同時(shí)也可用于陶瓷、涂料、制藥及水處理等行業(yè)。
 
  下面將詳細(xì)介紹納米粒度zeta電位儀的主要組成部件功能特點(diǎn),希望對您有所幫助。
 

 

  一、光學(xué)系統(tǒng)
 
  1、激光源:作為核心光源,激光器發(fā)出的單色光束是測量的基礎(chǔ)。通常采用波長為633nm或532nm的氦氖激光或固態(tài)激光器,確保了高穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。
 
  2、檢測器:包括光電二極管陣列或CCD相機(jī)等設(shè)備,用于捕捉散射光信號(hào)。高性能的檢測器可以提高數(shù)據(jù)采集速度和靈敏度,適用于不同濃度樣品的分析。
 
  二、樣品池與流動(dòng)單元
 
  1、樣品池:設(shè)計(jì)用于容納待測樣品,并允許激光穿過樣品進(jìn)行測量。根據(jù)不同的應(yīng)用需求,有多種類型的樣品池可供選擇,如標(biāo)準(zhǔn)比色皿、微量樣品池等。
 
  2、流動(dòng)單元(可選):對于需要連續(xù)進(jìn)樣或在線監(jiān)測的應(yīng)用場景,流動(dòng)單元可以讓樣品自動(dòng)流入樣品池內(nèi)進(jìn)行動(dòng)態(tài)測量,增加操作便利性的同時(shí)也減少了人為誤差。
 
  三、電子控制系統(tǒng)
 
  1、計(jì)算機(jī)控制界面:現(xiàn)代儀器通常配備用戶友好的軟件界面,支持實(shí)驗(yàn)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集、處理及報(bào)告生成等功能。該界面還可以實(shí)現(xiàn)對儀器各項(xiàng)參數(shù)的精確調(diào)控。
 
  2、電源與信號(hào)處理模塊:負(fù)責(zé)向各個(gè)組件供電并對接收到的電信號(hào)進(jìn)行放大、濾波等預(yù)處理工作,以保證后續(xù)數(shù)據(jù)分析的質(zhì)量。
 
  四、溫度控制裝置
 
  1、恒溫槽:由于溫度變化會(huì)影響顆粒行為及電介質(zhì)性質(zhì),因此維持樣品在恒定溫度下進(jìn)行測量非常重要。內(nèi)置或外置的恒溫槽可以提供穩(wěn)定的環(huán)境條件,確保結(jié)果的一致性。
 
  2、溫度傳感器:實(shí)時(shí)監(jiān)控樣品池內(nèi)的溫度,并將信息反饋給控制系統(tǒng),以便于及時(shí)調(diào)整加熱/冷卻裝置的工作狀態(tài)。
 
  五、Zeta電位測量模塊
 
  1、電泳光散射技術(shù):這是測定Zeta電位的關(guān)鍵技術(shù)之一,通過觀察帶電粒子在外加電場作用下的運(yùn)動(dòng)情況來計(jì)算其表面電荷強(qiáng)度。算法和硬件配置使得即使是非常微小的粒子也能被準(zhǔn)確測量。
 
  2、電導(dǎo)率計(jì)(可選):部分型號(hào)的儀器還集成了電導(dǎo)率測量功能,這對于理解溶液中的離子強(qiáng)度如何影響Zeta電位具有重要意義。
 
  綜上所述,納米粒度zeta電位儀憑借其精密的構(gòu)造和多樣化的功能,在科學(xué)研究和技術(shù)開發(fā)中發(fā)揮著重要的作用。正確理解和利用這些組成部件的功能特點(diǎn),有助于研究人員獲得更準(zhǔn)確可靠的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的進(jìn)步與發(fā)展。

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