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HORIBA 科學儀器事業(yè)部

納米粒度zeta電位儀正確操作步驟的詳細介紹

時間:2024-7-15
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  納米粒度zeta電位儀主要用于測量納米級顆粒的粒度分布和表面電荷(Zeta電位),結合了電泳技術和光散射原理,通過測量顆粒在電場中的遷移率和光散射角度,精準獲取顆粒的粒徑和電位信息。該儀器廣泛應用于生物、化學、醫(yī)學及材料科學等領域,為科研和工業(yè)生產提供了重要的技術支持。
 
  正確操作納米粒度zeta電位儀非常關鍵,以確保準確的測量結果和保護長期使用。以下是正確操作步驟的詳細介紹:
 

 

  步驟一:準備工作
 
  1、環(huán)境準備:在無塵室或干凈的實驗室環(huán)境中操作,以避免塵埃和雜質對測量結果的干擾。
 
  2、儀器檢查:確認電源和所有連接線都正確連接,確保儀器沒有損壞或松動的部件。
 
  3、樣品準備:根據測量要求,準備好樣品溶液或懸浮液,確保樣品是均勻懸浮的,沒有大的顆?;蚩諝馀?。
 
  步驟二:基礎測量設置
 
  1、打開儀器:按照制造商提供的操作手冊,打開儀器,并等待其初始化完成。
 
  2、樣品艙裝載:根據設計將樣品注入或注入樣品艙,確保操作過程中不引入空氣或其他污染物。
 
  3、測量參數設定:設置測量參數,包括溫度、攪拌速度和測量時間等。這些參數應根據樣品的特性和制造商的建議進行調整。
 
  步驟三:進行測量
 
  1、粒徑測量:選擇合適的測量模式(例如動態(tài)光散射),開始測量納米顆粒的尺寸分布。確保儀器在測量過程中穩(wěn)定運行,并記錄測量結果。
 
  2、電位測量:如果需要測量表面電位(zeta電位),切換到相應的測量模式,并按照儀器指南執(zhí)行測量步驟。記錄并分析測量結果以獲取所需的表面電荷信息。
 
  步驟四:數據分析和記錄
 
  1、數據分析:使用儀器附帶的分析軟件或其他專業(yè)軟件,對測量數據進行分析和處理。生成粒徑分布圖、電位圖或其他所需的數據輸出。
 
  2、結果記錄:將測量結果和分析數據記錄在實驗日志或數據表中,包括樣品名稱、測量條件、結果摘要等信息。
 
  步驟五:維護和清潔
 
  1、測量結束:完成所有測量后,按照手冊的建議關閉儀器和相關設備。
 
  2、儀器清潔:根據制造商的建議,定期清潔和維護,以確保儀器的性能和精度。避免使用損壞清潔劑或方法。
 
  通過以上詳細的操作步驟,可以有效地使用納米粒度zeta電位儀進行測量,并獲取準確的納米顆粒尺寸和表面電荷特性的數據。操作過程中的每個步驟都應嚴格遵循制造商提供的操作手冊和建議,以確保測量結果的可靠性和重復性。

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