大塚電子（蘇州）有限公司
詳細摘要： 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應(yīng)CIE推薦...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-15 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-15 在線留言
詳細摘要： MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-15 在線留言
詳細摘要： 【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potenti...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言
詳細摘要： 本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能等...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言
詳細摘要： ● nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學(xué)系統(tǒng)，實...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言
詳細摘要： 測量項目：[膜厚、折射率n、消光系數(shù)k]. 測量原理：[分光干涉法]. 測量對象：[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測量范圍：[1nm~92μm]....
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學(xué)總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準 采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量 測量...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言
詳細摘要： ●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置?！襁m用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 與產(chǎn)線的控制信號同步 通過光纖的自由的測試系統(tǒng) 實現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400） 同以往的產(chǎn)品相比，測量、演算、評價1個周期有可到...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學(xué)薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的強大功能 無...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 nanoSAQLA 的特點 1個單元可輕松連續(xù)測量5個樣品 實現(xiàn)了 在沒有自動進樣器的情況下難以 實現(xiàn)的 多個樣品的 連續(xù)測量， 也可以通過改變...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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